邊界掃描測試技術及套用

書籍信息

• 書名邊界掃描測試技術及套用
  
• 書號978-7-118-10714-2
  
• 作者陳聖儉，牛春平，石海濱
  
• 出版時間2016年6月
  
• 譯者
  
• 版次1版1次
  
• 開本32
  
• 裝幀平裝
  
• 出版基金
  
• 頁數257
  
• 字數240
  
• 中圖分類TM93
  
• 叢書名
  
• 定價79.00
  

內容簡介

全書共分10章，主要內容有：邊界掃描測試技術的發展過程及基本原理；邊界掃描標準體系結構框圖及邊界掃描測試的總體概念；TAP控制器的組成和工作原理；指令暫存器和指令系統，以及測試數據暫存器的規定及使用；互連測試及診斷算法原理；混合電路邊界掃描測試標準IEEE1149.4和模組測試及維護匯流排標準IEEE1149.5；對數字電路系統的邊界掃描測試進行了實例剖析；依據混合電路邊界掃描測試標準進行BIT設計的基本原理框架，並給出了分立元件參數線上測試的流程。

目錄

第1章邊界掃描測試技術概述1

1.1技術背景及研究進展1

1.2邊界掃描測試技術原理及測試過程4

1.2.1基本原理4

1.2.2測試過程7

1.3測試邏輯結構及框架8

1.4邊界掃描測試技術的運用10

第2章測試訪問連線埠13

2.1時鐘輸入(TCK)14

2.2測試模式選擇輸入(TMS)15

2.3測試數據輸入(TDI)15

2.4測試數據輸出(TDO)16

2.5測試復位輸入(TRST)16

第3章TAP控制器17

3.1TAP控制器功能概述17

3.1.1TAP控制器的狀態轉換18

3.1.2TAP控制器16個狀態功能描述19

3.2TAP控制器工作原理27

3.2.1TAP控制器對指令暫存器的控制28

3.2.2TAP控制器對測試數據暫存器的控制30

3.3TAP控制器設計實現33

3.3.1傳統設計方法33

3.3.2基於硬體描述語言的設計方法39

3.3.3TAP控制器的初始化41

第4章指令暫存器及測試指令43

4.1指令暫存器功能概述43

4.2指令暫存器工作原理及設計實現44

4.3測試指令47

4.3.1指令的分類47

4.3.2測試指令集48

第5章測試數據暫存器67

5.1測試數據暫存器概述67

5.2邊界掃描暫存器71

5.2.1邊界掃描暫存器的設計與實現73

5.2.2邊界掃描暫存器單元76

5.2.3特殊情況的最佳化設計110

5.3旁路暫存器113

5.4器件標識暫存器114

5.4.1器件標識暫存器的原理及設計實現114

5.4.2製造廠商標識碼116

5.4.3Part－number碼和版本號117

第6章邊界掃描互連診斷算法118

6.1故障模型及基本概念119

6.1.1故障模型119

6.1.2基本概念121

6.1.3邊界掃描互連診斷算法優劣評價標準122

6.2邊界掃描互連診斷算法研究現狀及存在的問題123

6.2.1常規互連診斷算法研究現狀123

6.2.2結構互連診斷算法研究現狀125

6.2.3自適應互連診斷算法研究現狀126

6.2.4邊界掃描互連診斷算法存在的問題127

6.3有關徵兆誤判和徵兆混淆的定理和推論的證明128

6.3.1故障檢測定理128

6.3.2抗誤判定理129

6.3.3完備性定理131

6.4W－A與W－O+W－A的常規互連診斷算法132

6.4.1改進的W－O抗誤判算法132

6.4.2改進的W－A抗誤判算法135

6.4.3同時具備W－O和W－A對角獨立性的多故障測試生成算法137

6.4.4W－A的GNS算法141

6.4.5W－O+W－A的GNS算法143

6.4.6常規互連診斷算法總結145

6.5結構互連診斷算法147

6.5.1故障提取及故障原因分析147

6.5.2短路故障提取方法148

6.5.3結構算法相關定義151

6.5.4現有結構診斷算法分析152

6.6W－A與W－O+W－A的自適應互連診斷算法159

6.6.1W－A的自適應互連診斷算法159

6.6.2W－O+W－A的自適應互連診斷算法162

6.6.3改進的自適應互連診斷算法165

第七章混合電路邊界掃描測試標準IEEE1149.4172

7.1混合電路測試工作原理及基本測試結構172

7.2測試匯流排接口電路(TBIC)176

7.2.1測試匯流排與TBIC結構176

7.2.2測試匯流排接口電路控制178

7.2.3隔離內部測試匯流排結構180

7.3ABM模組182

7.3.1ABM的基本結構182

7.3.2ABM的控制185

7.3.3差分ABM187

7.4指令190

7.5測量方法193

7.5.1互連測試193

7.5.2擴展互連測試194

7.5.3網路測量196

第八章模組測試及維護匯流排標準IEEE1149.5197

8.1IEEE1149.5標準簡介197

8.2IEEE1149.5MTM匯流排的結構、定址方式和物理層協定 200

8.3IEEE1149.5MTM匯流排的鏈路層協定202

8.3.1訊息包說明及要求203

8.3.2主模組的鏈路層協定204

8.3.3從模組的鏈路層協定206

8.4IEEE1149.5MTM匯流排的訊息層協定209

第9章數字電路系統邊界掃描測試技術套用212

9.1被測系統描述212

9.1.1被測系統分析212

9.1.2被測系統測試性設計214

9.2主控系統硬體設計222

9.3主控系統軟體設計224

9.4邊界掃描測試驗證與結果分析230

9.4.1邊界掃描互連測試驗證232

9.4.2邊界掃描簇測試驗證238

9.4.3晶片功能自測試驗證241

9.4.4BIST測試241

第10章基於邊界掃描測試技術的混合信號電路BIT套用242

10.1研究對象簡介242

10.2基於邊界掃描技術的混合信號電路測試性設計242

10.3被測電路系統的設計和改造243

10.3.1相關性分析和建模243

10.3.2測試優選246

10.3.3制定診斷策略247

10.3.4基於邊界掃描技術的BIT設計實現248

10.4測試類型和測試方法252

10.4.1邊界掃描鏈路完整性測試252

10.4.2器件間互連測試252

10.4.3分立元件參數測試254

參考文獻257"