累積輻射效應指人體、生物機體或其他物質在各種電離輻射的一次連續照射下（或多次反覆照射），所受到的總的吸收劑量。必須註明時間，如工作人員在一周或一年中的累積劑量。
基本介紹
- 中文名：累積輻射效應
- 外文名：Cumulative radiation effect
累積劑量的測量,熱釋光技術,光致發光技術,減少累積劑量的方法,
累積劑量的測量
過量的電離輻射對人體會造成危害, 《放射性同位素與射線裝置管理條例》中明確指出: 從事輻射工作的人員, 應當進行個人劑量監測。同時, 在對環境的評估中, 比如對核設施及環境質量進行監測過程中, 也需要進行累積劑量的測量。測量流程：（1）退火（2）發片（3）測量
熱釋光技術
國內測定累積劑量的方法多為熱釋光技術, 但其易受環境因素的影響。探測元件在輻射場中, 能夠將所接受的一部分輻射能貯存起來, 當對探測器進行加熱時, 這些輻射能以光的形式放出, 這種特性稱為輻射熱釋光或熱釋光( TL)。熱釋光強度隨加熱條件而變化, 兩者之間的函式關係稱發光曲線。由熱釋光讀出器將這些光能收集起來, 發光強度及發光總量與吸收劑量成正比, 因而可測得輻照劑量。這種現象是一次性的, 也就是當固體在受輻射作用後, 只有被第一次加熱時才會有光釋放出來。在再次加熱過程中, 除非重新再接受輻射作用, 否則將不會有發光現象。
光致發光技術
探測元件受到輻照後所產生的電子空穴對, 會被物質內的晶格缺陷捕獲; 被捕獲的這些離子對,在受到外界激發後會發射出光, 這種特性稱為光致發光( OSL, Opt ica lly Stimulated Lum inescence)。發射光的強度, 與所受輻照的強度和激發的強度成正比。在讀取劑量時, 探測元件受到發光二極體所發出的光而激發釋放出螢光信號, 該信號正比於所受的輻照強度 。光致發光是非破壞性的, 絕大部分的螢光信號仍保留在元件內, 可以重複分析。
減少累積劑量的方法
（1）減少受到輻射的時間，在輻射場內的人員所受照射的累積劑量與時間成正比，因此，在照射率不變的情況下，縮短照射時間便可減少所接受的劑量，或者人們在限定的時間內工作，就可能使他們所受到的射線劑量在最高允許劑量以下，確保人身安全（僅在非常情況下採用此法），從而達到防護目的。
（2）距離防護是外部輻射防護的一種有效方法，採用距離防護的射線基本原理是首先將輻射源是作為點源的情況下，輻射場中某點的照射量、吸收劑量均與該點和源的距離的平方成反比，我們把這種規律稱為平方反比定律，即輻射強度隨距離的平方成反比變化（在源輻射強度一定的情況下，劑量率或照射量與離源的距離平方成反比）。增加射線源與人體之間的距離便可減少劑量率或照射量，或者說在一定距離以外工作，使人們所受到的射線劑量在最高允許劑量以下，就能保證人身安全。從而達到防護目的。
（3）禁止防護，射線包括穿透物質時強度會減弱，一定厚度的禁止物質能減弱射線的強度，在輻射源與人體之間設定足夠厚的禁止物（禁止材料），便可降低輻射水平，使人們在工作所受到的劑量降低最高允許劑量以下，確保人身安全，達到防護目的。
