相控陣成像超音波探傷儀

相控陣成像超音波探傷儀,通過軟體可以單獨控制相控陣探頭中每個晶片的激發時間,從而控制產生波束的角度、聚焦位置和焦點尺寸。

定義,解釋,

定義

相控陣工作原理

解釋

,TOFD探傷儀,TOFD證書,測厚儀,粗糙度儀,硬度計,紅外線測溫儀,紅外線熱像儀等)儀表設備產品! 常見的探頭陣列幾何外形如下:
· 線形陣
1維線形陣
2維矩形陣
· 圓形陣
– 1維環形陣
– 2維扇形陣
超聲相控陣技術優勢:
1.實時彩色成像,包括A/B/C/D和S-掃描,便於缺陷判讀,不會誤判或漏判缺陷;
2.相控陣技術可以實現線性掃查、扇形掃查和動態深度聚焦,從而同時具備寬波束和多焦點的特性,因此檢測速度可以更快更準;
3、相控陣具有更高的檢測靈活性,可以實現其它常規檢測技術所不能實現的功能,如對複雜工件檢測;
4、容易檢測各種走向、不同位置的缺陷,缺陷檢出率高,檢測範圍廣,定量、定位精度高;
5、掃查裝置簡單,便於操作和維護;使用更便捷,對人體無傷害,對環境無污染;
6、檢測結果受人為因素影響小,數據便於儲存、管理和調用,以及連線電腦列印查看。也可以直接連線滑鼠在儀器上操作。
7、可以節省許多成本費用,一探頭+各角度楔塊的多用處,可以自動生成圖文缺陷報告,若有內部網路可以直接傳送質檢報告到數據中心查閱。

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