基本介紹
- 中文名：比長儀
- 外文名：comparator
- 領域：光學
- 屬性：長度測量工具
- 功能：測量線紋距離
- 分類：雷射比長儀等
概述,分類,結構特點,操作規程,
概述
比長儀是以不接觸光學定位方法瞄準被測長度，主要用於測量線紋距離的精密長度測量工具。
比長儀一般採用測量顯微鏡或光電顯微鏡作為瞄準定位部件，並以精密線紋尺的刻度或光波波長作為已知長度，與被測長度比較而確定量值。比長儀主要用於檢定線紋尺，測量分劃板上的線距和物理、天文類照相底片上的光波譜線距離，也可用於測量孔徑。
分類
比長儀按結構布局分為縱向的和橫向的兩類。縱向比長儀採用線紋尺作為已知長度，且結構設計符合阿貝原則，稱為阿貝比長儀。測量時,先用測量顯微鏡瞄準被測線條，從讀數顯微鏡讀得一數值。然後移動工作檯，再用測量顯微鏡瞄準另一被測線條，從讀數顯微鏡讀得另一數值。這兩個數值之差即是被測兩線條間距離。
橫向比長儀的被測長度和已知長度是並列布置的，這種布局可以縮短導軌長度，但要求導軌精度高。採用愛賓斯坦光學系統,可以補償結構不符合阿貝原則而產生的測量誤差。以光電顯微鏡代替上述兩種顯微鏡者，稱為光電比長儀；採用雷射或其他單色光波長作為已知長度者，分別稱為雷射比長儀和光電光波比長儀。阿貝比長儀的測量精確度為±1～±1.5微米/200毫米，光電比長儀可達到±0.5微米/1000毫米，而光電光波比長儀和雷射比長儀則可達到±0.2微米/1000毫米。
結構特點
比長儀是由刻度盤1、千分表2、上測頭3、90°V型槽支架4、下測頭5、標準桿6、底座等組成。它具有使用方便、測量精度高、速度快、讀數清楚等優點。為了滿足用戶的使用要求，支架採用V型槽式，上下測頭採用平面測頭，這種方法提高了測量精度和準確性，可供廣大用戶試驗檢測用。
操作規程
1、 將比長儀放在工作檯上，將標準桿放入比長儀上下測頭球面孔內，鬆開上測頭鎖緊螺母、調整上測頭與百分表使刻度盤上“0”位於百分表指針對齊後，將上測頭鎖緊螺母擰緊。
2、 將被測試體擦淨，一端釘頭放入比長儀下測頭球面孔內，另一端釘頭輕輕放入比長儀上測頭的球面孔內。
3、 左右旋轉被測體，使試體與比長儀下測頭良好接觸。檢查比長儀上下測頭球面孔內是否有砂粒等髒物。
4、 測量試體讀數時，首先讀錶盤內小錶針所指示的數值，然後再讀大錶針所指示的數值。
5、 比長儀是一種精密的測量儀器，在使用過程中一定要輕拿輕放，保持整潔。
