材料分析儀

材料分析儀是一種高精度的分析儀器，主要用於檢測礦石及金屬材料中的金屬元素含量。該儀器具備極高的譜線分辨能力，在200nm波長處的解析度優於使用薄層雙列陣背投式CCD，具有靈敏度高、穩定性好的特點。其檢測能力適用於礦石及金屬材料的金屬元素含量分析。

基本介紹

• 檢測波長：200nm
• 解析度：優於同類標準
• 探測器：薄層雙列陣背投式CCD
• 套用領域：礦石及金屬材料分析
• 資料時效：2021年1月14日 

技術特點

材料分析儀的核心技術特點包括：

1. 高解析度：在200nm波長處解析度優於使用薄層雙列陣背投式CCD，能夠精準區分複雜材料中的微量元素差異；
2. 先進探測器：搭載薄層雙列陣背投式CCD，靈敏度高，穩定性好；
3. 靈敏檢測：極高的譜線分辨能力，200nm處解析度優於使用薄層雙列陣背投式CCD，靈敏度高，穩定性好。

套用領域

該儀器主要適用於以下場景：

• 礦石分析：快速測定礦石樣本中金屬元素的種類與含量，為礦產開發提供數據支持；
• 金屬材料檢測：用於礦石及金屬材料的金屬元素含量分析。

2021年1月14日，材料分析儀具有極高的譜線分辨能力，200nm處解析度優於使用薄層雙列陣背投式CCD，靈敏度高，穩定性好，適用於礦石及金屬材料的金屬元素含量分析。