有色金屬分析儀

有色金屬分析儀

有色金屬分析儀儀器是用於鋼、鐵及其合金材料中磷、矽、銅、鐵、鎂、鈦、錳、鉻、鎳、鋅、銅、錫、鉛等元素分析的三通道光電分析儀。

基本介紹

  • 中文名:有色金屬分析儀
  • 比色時間 : 約3秒
  • 波長範圍 : 400-750nm
  • 電 源 :220V±10% 50Hz
介紹,技術參數,儀器特點,分析方法歸納,

介紹

在國內先進技術基礎上,首次採用了“智慧型動態跟蹤”和“標準曲線的非線性回歸”等先進技術,使傳統的儀的日常調整和標樣曲線的建立方法起了根本性的變化。現已大量地套用在冶金、鑄造、採礦、建築、機械、電子、環保、衛生、化工、電力、技術監督等三班倒連續作業以及雜技上對固定的場合,如爐前、成品來料化驗等。

技術參數

1、分析方法:光電比色分析法
2、比色時間:約3秒
3、測量精度:符合GB223.3-5-1988標準
4、數據存貯:EPROM,斷電數據可保持數年
5、波長範圍:400-750nm(濾光片)
6、吸光度範圍:0-2A
7、濃度範圍:0.000-9.999% 10.00-99.99%自動換檔顯示
8、電 源:220V±10% 50Hz
9、耗 電 量:≤50W

儀器特點

1、可分析銅合金中:鐵、鉻、錳、矽、鋅、錫、鉛等元素。
2、採用微機控制即數據處理,可儲存15條曲線,大大拓寬了測量元素的種類。並可進行曲線修正,具有斷電數據保護等功能。測量結果數顯直讀,自動列印。
3、零點、滿度均自動跟蹤,無需精確調整。採用觸摸鍵盤,32鍵音響提示,多種快捷功能鍵。可輸入日期和爐號,並可自動列印記錄.採用了先進的冷光源技術使數據更加穩定。
電腦元素分析儀概述:
該儀器可檢測鋼鐵、有色金屬等材料中所有常規元素 Mn、P、Si、Cr、Ni、Mo、Cu、Ti、Al、W、V、Zn、Fe等;採用品牌電腦微機控制,電子天平稱量,台式印表機列印檢測結果;測試軟體功能齊全,能完全替代傳統化驗室的各項手工書寫工作,並可根據各單位實際需求,任意設定檢測報告格式;檢測功能龐大,具備檢測108個元素的通道空間,儲存n 條曲線。 四個通道,每個通道可儲存n 條曲線。
電腦元素分析儀主要技術參數:
波長範圍:400-750nm(濾光片)
吸光度範圍:0-2A
濃度範圍:0.0000-99.999%
電 源:交流220V±10% 50Hz
耗 電 量:≤50W 測量精度:符合GB223-5-1988
比色時間:約3秒
測量範圍:(因該儀器可檢測的元素較多,現以鋼中Mn、P、Si、Cr、Ni等常見元素為例)
Mn:0.010~20.500% P:0.0005~1.0000% Si:0.010~18.000% Cr:0.010~38.000%
Ni:0.010~48.000% Mo:0.010~7.00% ΣRE:0.0100~0.500% Mg:0.0100~0.800%
Cu:0.010~8.000% Ti:0.010~5.000% ... ...如改變測試條件,該範圍可相應擴大。

分析方法歸納

有色金屬狹義上指的是鐵、錳、鉻以外的所有金屬,廣義上還包括這些金屬的合金。一般有色金屬分為輕金屬,重金屬,貴金屬和稀有金屬,矽、硼、硒、碲、砷這些介於金屬和非金屬之間的元素,一般工業生產上也作為半金屬被納入有色金屬的範疇內。分析有色金屬的主要方法有原子光譜法,X射線螢光法,掃描隧道分析法,原子質譜法和熱重量法。
原子光譜法包括發射光譜法(AES),吸收光譜法(AAS)和螢光光譜法;可以進行定性和定量分析,分析速度快,檢出限低,選擇性好。常用於分析銣、銫等鹼金屬和鎵、銦、鉈等稀散金屬,也可以分析半金屬,但靈敏度較低。發射光譜法的精度主要受光源影響,常見的直讀光譜儀以火花或者電弧作為激勵源,可以對鐵基、銅基、鈦基、鎂基等不同合金成分分析,具有多元素同時檢測的能力,套用在廣泛套用在冶金、鑄造、金屬加工、機械製造等領域。高端的儀器使用電漿電感耦合(ICP)光源,可以產生10000K高溫,具有極高的靈敏度和檢出限,多用於非金屬元素分析和痕量範圍的定量分析。吸收光譜儀和螢光光度法主要精度受原子化器影響,主要有火焰原子化器和石墨爐原子化器。其中以火焰原子化器重現性好,而石墨爐原子化器的檢出限更低。吸收光譜法對元素的選擇性好,譜線干擾少。
X射線螢光法是種重要的無損分析方法,可用於動態過程的分析。其再現性好,散射線本底強度小,分析靈敏度高。跟原子光譜法相比,X射線螢光法受基體的影響更大,可以為表面和微區分析,分析輕元素時受散射和螢光效率的影響檢出限會提高。根據分光原理的不同,X射線螢光光譜儀分為波長色散型和能量色散型兩種。前者主要用於實驗室定量分析。後者無需分光系統,檢測器可以緊挨樣品進行原位分析,不存在高次衍射譜線干擾;可以一次同時測定絕大部分金屬元素含量,非常便於現場做定性判斷。隨著X射線管制備技術,半導體探測技術和計算機技術的改進,攜帶型X射線光譜儀在合金材料鑑別、廢舊金屬回收、礦石勘探、品位控制、珠寶鑑別、環境和土壤中重金屬檢測等領域都有極廣泛套用。
掃描隧道顯微法可以對物質本面進行原子級別的分辨,通常還配合電子束探針,進行光電子能譜和俄歇電子能譜分析,可以對表面電子分布和能級結構進行分析,多用於特殊合金的表面相和催化過程的研究。原子質譜法的光源和發射光譜法相同,不僅可以用於超痕量分析,還可以進行同位素測量,具有最高的靈敏度和最低的檢出限。熱重分析可以對易分解組分和灰分含量進行測定,也用於研究高溫下物理化學反應過程。
用於有色金屬分析的儀器主要是原子發射光譜儀,X射線螢光光譜儀多用於現場無損分析,原子吸收光譜儀和ICP-MS多用於實驗室定量分析。

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