數字射線無損檢測技術

數字射線無損檢測技術

《數字射線無損檢測技術》主要內容包括簡要的射線檢測技術的物理基礎,數字射線檢測技術的主要設備、器材(特別是輻射探測器),數字射線檢測技術理論,數字射線檢測基本技術,數字射線檢測常用技術,底片圖像數位化掃描技術等。的核心內容是,從成像過程的基本理論和數字,圖像的基本理論,給出了射線檢測數字圖像的基本理論,並在此基礎上闡述數字射線檢測的基本技術。而且用單獨一節討論了數字射線檢測技術與膠片射線照相檢測技術的“等價性問題”,可以為正確套用數字射線檢測技術提供幫助。

基本介紹

  • 書名:數字射線無損檢測技術
  • 出版社:機械工業出版社
  • 頁數:171頁
  • 開本:16
  • 品牌:機械工業出版社
  • 作者:鄭世才
  • 出版日期:2012年4月1日
  • 語種:簡體中文
  • ISBN:9787111374107
內容簡介,圖書目錄,

內容簡介

《數字射線無損檢測技術》從成像過程的基本理論和數字圖像的基本理論,給出了射線檢測數字圖像的基本理論,在此基礎上闡述數字射線檢測的基本技術。
《數字射線無損檢測技術》內容依據的是作者多年從事射線檢測技術工作的經驗、掌握的射線檢測技術理論,積累的相關理論知識及近幾年進行的數字射線檢測技術試驗結果,也包括對國外數字射線檢測技術標準規定的一些分析研究等。
《數字射線無損檢測技術》是國內首次對數字射線檢測技術的理論、技術的構築。可供從事射線檢測的技術人員、科研人員閱讀,也可供高等院校相關專業的師生參考。

圖書目錄

前言
第1章 射線檢測技術的物理基礎
1.1 射線概念
1.1.1 射線分類
1.1.2 X射線
1.1.3 γ射線
1.2 射線與物質的相互作用
1.2.1 光電效應
1.2.2 康普頓效應
1.2.3 電子對效應
1.2.4 瑞利散射
1.3 射線衰減規律
1.3.1 基本概念
1.3.2 單色窄束射線衰減規律
1.3.3 寬束連續譜射線的衰減規律
1.4 射線檢測技術的基本原理
第2章 射線機與像質計
2.1 X射線機
2.1.1 X射線機的基本結構
2.1.2 X射線管
2.1.3 X射線機的類型
2.1.4 X射線機的技術性能
2.2 γ射線機
2.3 加速器
2.4 像質計
2.4.1 像質計概述
2.4.2 射線檢測的常規像質計
2.4.3 雙絲型像質計
2.5 線對卡
第3章 輻射探測器
3.1 輻射探測器概述
3.2 輻射探測器的物理基礎
3.3 半導體輻射探測器
3.3.1 半導體輻射探測器的原理
3.3.2 半導體輻射探測器的基本結構
3.3.3 非晶矽輻射探測器
3.3.4 非晶硒輻射探測器
3.3.5 閃爍體結合CCD(或CMOS)探測器
3.4 閃爍輻射探測器
3.4.1 閃爍輻射探測器的原理與結構
3.4.2 光電倍增管
3.4.3 圖像增強器
3.4.4 IP板
3.5 氣體輻射探測器
3.6 A/D轉換器
第4章 成像過程基本理論
4.1 成像過程概念
4.2 成像過程的空間域分析
4.3 成像過程的空間頻域分析
4.4 線擴散函式、邊擴散函式與不清晰度
4.5 瑞利判據
第5章 數字圖像基本理論
5.1 數字圖像概念
5.2 圖像數位化過程
5.2.1 採樣與採樣定理
5.2.2 圖像幅值量化
5.2.3 數位化對圖像的影響
5.3 數字射線檢測圖像質量
5.3.1 數字射線檢測圖像的對比度
5.3.2 數字射線檢測圖像的空間解析度
第6章 數字射線檢測基本技術
6.1 數字射線檢測技術的基本過程
6.2 數字射線檢測技術控制的基本關係式
6.2.1 檢測圖像對比度
6.2.2 檢測圖像不清晰度
6.3 透照技術
6.3.1 透照布置
6.3.2 透照參數
6.3.3 最佳放大倍數
6.3.4 散射線防護
6.4 圖像數位化技術
6.4.1 圖像數位化技術概述
6.4.2 直接數位化技術輻射探測器選擇
6.4.3 間接數位化技術的圖像數位化技術控制
6.4.4 射線源焦點尺寸選擇
6.5 圖像顯示與觀察技術
6.5.1 圖像顯示與觀察的視覺理論基礎
6.5.2 顯示器的基本性能
6.5.3 數字圖像處理技術
6.6 數字射線檢測技術近似設計
6.6.1 概述
6.6.2 檢測圖像常規像質計指標設計
6.6.3 檢測圖像空間解析度指標設計
6.6.4 數字射線檢測技術近似設計實例
6.7 等價性問題討論
6.7.1 等價性問題概述
6.7.2 射線檢測技術系統的分析
6.7.3 等價性具體問題分析
6.7.4 等價性厚度範圍問題的其他處理方法
第7章 常用數字射線檢測技術
7.1 分立輻射探測器直接數位化射線檢測技術
7.1.1 直接數位化射線檢測技術系統
7.1.2 直接數位化射線檢測技術控制
7.1.3 檢測圖像質量要求與技術套用
7.2 CR技術——IP板間接數位化射線檢測技術
7.2.1 CR技術檢測系統組成
7.2.2 CR技術控制
7.2.3 CR技術的圖像質量控制
7.3 圖像增強器間接數位化射線檢測技術
7.4 微焦點數位化射線檢測技術
第8章 底片圖像數位化掃描技術
8.1 掃瞄器
8.1.1 掃瞄器概述
8.1.2 掃瞄器的基本性能指標
8.2 掃描技術
8.2.1 圖像掃描的基本過程
8.2.2 空間解析度設定
8.2.3 掃描圖像的後期處理
8.3 掃瞄器選用
附錄
附錄A 卷積概念與傅立葉變換概念
附錄B 採樣定理的進一步說明
附錄C 射線照相檢測技術的缺陷檢驗理論
參考文獻

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