封裝引線間電容和引線負載電容測試方法

《封裝引線間電容和引線負載電容測試方法(GB/T 16526-1996)》於1997年5月第一版、第一次印刷。本標準等效採用半導體設備與材料國際組織(SEMI)的國際標準SEMIG24-89《測量封裝引線的引線間電容和負載電容》。由中華人民共和國電子工業部提出、全國積體電路標準化分技術委員會歸口。並由中華人民共和國國家技術監督局於1996年9月發布,並於1997年5月實施。

基本介紹

  • 中文名:封裝引線間電容和引線負載電容測試方法
  • 外文名:Test Method Measuring the Lead-to-Lead and Loading Capacitance of Package Leads
  • 作者:國家技術監督局
  • 出版日期:1997年5月1日
  • 語種:簡體中文
  • ISBN:155066113683
  • 出版社:中國標準出版社
  • 頁數:2頁
  • 開本:16
《封裝引線間電容和引線負載電容測試方法(GB/T 16526-1996)》由中國標準出版社出版。

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