基體干擾

譜線的強度與試樣的組成、蒸發、原子化、激發、電極材料等條件有關,而且共存元素也影響被測元素的譜線強度,後者的干擾稱為基體干擾(matrix interference),又稱基體效應。實驗中,常常主要考慮的干擾是基體干擾。試樣組成越複雜,基體干擾越顯著,分析誤差越大。主要原因是在激發過程中,試樣組成的變化引起激發溫度的變化。為消除干擾,通常在基體中加入光譜緩衝劑光譜載體

基本介紹

  • 中文名:基體干擾
  • 外文名:matrix interference
  • 套用學科:分析化學
  • 別稱:基體效應
  • 解釋:基體干擾越顯著,分析誤差越大
簡介,基本性質,消除干擾方法,

簡介

原子吸收光譜中,干擾情況是很複雜的。在文獻中,對於干擾有不同的分類方法,就干擾發生的原因而言,可以分為物理干擾、化學干擾、電離干擾和光譜干擾;就干擾發生的過程而言,可以分為凝聚相干擾和氣相干擾;就干擾效應而言,可以分為傳輸干擾,空間分布干擾等。就干擾來源而言,分為基體干擾和其他共存組分的干擾。基體干擾是石墨爐原子吸收分析法中存在的一種主要干擾源,特別是分析地質、生物樣品和海水等基體組成複雜樣品中的痕量元素時,基體干擾是十分顯著的。在火焰原子吸收分析法中,也存在基體干擾。

基本性質

基體干擾(matrix interference)是由於試樣中含量高的組分的基體效應對測定痕量元素產生的干擾。基體效應引起的干擾,在性質上可以是物理干擾,也可以是化學干擾或光譜干擾。大量基體的存在,會改變試樣的某些物理性質,引起進樣、蒸髮狀況的變化。
例如,在石墨爐中高濃度基體揮發出來的氣態分子產生的“微粒雲”,引起分子吸收和光散射,會產生很強的背景吸收。或者揮發物在石墨管較冷的兩端冷凝後在下次測定循環中再重新蒸發,產生嚴重的記憶效應。或者,在揮發和蒸發過程中,夾帶被測元素共揮發和共蒸發,造成被測元素的損失。若基體是化學活性的,在蒸發、灰化、原子化過程中,與被測元素形成易揮發的或難解離的化合物,引起被測元素的損失、原子化效率下降或者記憶效應。例如大量HCl和HClO的存在可能使Cd、In、Mn和Hg等產生揮發損失,高溫元素基體生成難解離碳化物產生嚴重的記憶效應等。由此可見,基體干擾的情況是比較複雜的,可以產生多種性質的干擾。在原子吸收光譜分析中,一定要設法避免和消除基體干擾。

消除干擾方法

原子吸收光譜法(AAS)的基體干擾,在火焰法中大量基體原子化使被測元素基態原子被沖淡(稀釋),降低被測元素吸收值。消除這種干擾的方法是在無火焰原子吸收光譜法(FAAS)中,在標準溶液中加入純基體或分離基體,基體量不高時改用標準加入法。基體也可以用電解、沉澱分離,或用離子交換萃取被測元素,使其與基體分離。
消除石墨爐原子吸收光譜法(GFAAS)中的基體干擾經常採用加入基體改進劑,其作用是:
1、使基體轉化為易揮發的化合物,被測元素形成較穩定的化合物以防止被測元素基態原子在灰化階段損失和消除基體干擾;
2、使基體形成難解離的化合物,並且降低被測元素的原子化溫度。

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