基本介紹
- 書名：光學儀器常用標準彙編:電子光學和其他物理
- 出版社：中國標準出版社
- 頁數：253頁
- 開本：16
- 定價：86.00
- 作者：中國標準出版社第四編輯室
- 出版日期：2008年11月1日
- 語種：簡體中文
- ISBN：9787506650564
內容簡介,圖書目錄,文摘,
內容簡介
《光學儀器常用標準彙編:電子光學和其他物理光學儀器卷》由中國標準出版社出版。
圖書目錄
OB/T 6360—1995 雷射功率能量測試儀器規範
GB 7247.1—2001 雷射產品的安全第1部分：設備分類、要求和用戶指南
GB 7667—2003 電子顯微鏡x射線泄漏劑量
GB/T 13739—1992 雷射輻射橫模鑑別方法
GB/T 13742—1992 光學傳遞函式測量準確度
GB/T 15074—2008 電子探針定量分析方法通則
GB/T 15244—2002 玻璃的電子探針定量分析方法
GB/T 15245—2002 稀土氧化物的電子探針定量分析方法
GB/T 15246—2002 硫化物礦物的電子探針定量分析方法
GB/T 15247—1994 碳鋼和低合金鋼中碳的電子探針的定量分析方法靈敏度曲線法(檢量線法)
GB/T 15616—1995 金屬及合金的電子探針定量分析方法
GB/T 15617—2002 矽酸鹽礦物的電子探針定量分析方法
GB/T 17359—1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
GB/T 17360—2008 鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法
GB/T 17361—1998 沉積岩中自生粘土礦物掃描電子顯微鏡及x射線能譜鑑定方法
GB/T 17362—1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
GB/T 17363—1998 黃金製品的電子探針定量測定方法
GB/T 17364—1998 黃金製品中金含量的無損定量分析方法
GB/T 17365—1998 金屬與合金電子探針定量分析樣品的製備方法
GB/T 17366—1998 礦物岩石的電子探針分析試樣的製備方法
GB/T 17506—2008 船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針分析方法
GB/T 17507—2008 透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標樣的通用技術條件
GB/T 17722—1999 金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法
GB/T 17723—1999 黃金製品鍍層成分的X射線能譜測量方法
GB/T 18735 2002 分析電鏡（AEM/EDS）納米薄標樣通用規範
GB/T 18873—2008 生物薄試樣的透射電子顯微鏡一X射線能譜定量分析通則
GB/T 18907—2002 透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法
GB/T 19500—2004 X射線光電子能譜分析方法通則
GB 7247.1—2001 雷射產品的安全第1部分：設備分類、要求和用戶指南
GB 7667—2003 電子顯微鏡x射線泄漏劑量
GB/T 13739—1992 雷射輻射橫模鑑別方法
GB/T 13742—1992 光學傳遞函式測量準確度
GB/T 15074—2008 電子探針定量分析方法通則
GB/T 15244—2002 玻璃的電子探針定量分析方法
GB/T 15245—2002 稀土氧化物的電子探針定量分析方法
GB/T 15246—2002 硫化物礦物的電子探針定量分析方法
GB/T 15247—1994 碳鋼和低合金鋼中碳的電子探針的定量分析方法靈敏度曲線法(檢量線法)
GB/T 15616—1995 金屬及合金的電子探針定量分析方法
GB/T 15617—2002 矽酸鹽礦物的電子探針定量分析方法
GB/T 17359—1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
GB/T 17360—2008 鋼中低含量Si、Mn的電子探針定量分析方法
GB/T 17361—1998 沉積岩中自生粘土礦物掃描電子顯微鏡及x射線能譜鑑定方法
GB/T 17362—1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
GB/T 17363—1998 黃金製品的電子探針定量測定方法
GB/T 17364—1998 黃金製品中金含量的無損定量分析方法
GB/T 17365—1998 金屬與合金電子探針定量分析樣品的製備方法
GB/T 17366—1998 礦物岩石的電子探針分析試樣的製備方法
GB/T 17506—2008 船舶黑色金屬腐蝕層的電子探針分析方法
GB/T 17507—2008 透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標樣的通用技術條件
GB/T 17722—1999 金覆蓋層厚度的掃描電鏡測量方法
GB/T 17723—1999 黃金製品鍍層成分的X射線能譜測量方法
GB/T 18735 2002 分析電鏡（AEM/EDS）納米薄標樣通用規範
GB/T 18873—2008 生物薄試樣的透射電子顯微鏡一X射線能譜定量分析通則
GB/T 18907—2002 透射電子顯微鏡選區電子衍射分析方法
GB/T 19500—2004 X射線光電子能譜分析方法通則
文摘
第一篇 總則
1範圍和目的
1.1範圍
GB7247.1適用於雷射產品的安全。為了方便起見，本標準分成獨立的三個篇章：第一篇（總則）和附錄、第二篇（製造要求）、第三篇（用戶指南）。
雷射產品可以是附帶或不附帶獨立電源的單一雷射器，也可以是裝配了一個或多個雷射器的複雜光學、電氣或機械系統。雷射產品一般用於物理和光學現象的演示、材料加工、數據讀出及存儲、信息傳輸及顯示等等。這些系統已用在工業、商業、娛樂、研究、教育及醫學上。但是，出售給其他製造廠商用作任何系統部件的雷射產品可以不遵守本標準，因為最終產品本身將要服從本標準。
本標準中所用的辭彙“雷射器”無論何時都包括LED（發光二極體）。
符合下列條件的雷射產品或LED產品，不需考慮本標準的要求，如果：
——製造廠商根據第3章、第8章、第9章的分類，表明在所有工作、維護、檢修和故障條件下其發射水平不超過1類的AEL；
——不含有嵌裝式雷射器或嵌裝式LED。
除了雷射輻射引起的危害外，雷射設備也可引起其他傷害，諸如著火和電擊。
本標準闡述最低要求。
如果雷射系統構成設備的一部分，而設備必須遵從國家或IEC安全標準[如醫療設備（IEC60601—2—22）、信息技術設備（GB4943）、音頻和視頻設備（GB8898）、在有害環境中用的設備]，則除產品安全標準外，該設備還應符合本標準對雷射產品的安全要求。然而，如果雷射系統從設備移開後可以單獨工作，則被移開的單元應符合本標準的要求。
如果沒有適用的產品安全標準，則應使用GB4793.1。
本標準的MPE（最大允許照射量）值只針對雷射輻射而不適用於伴隨輻射。
然而，如果某種業務存在一種危險的可接觸伴隨輻射，則可以使用雷射輻射的MPE值對該危險進行謹慎的評估。
MPE值不適用於醫學上對患者進行治療的雷射照射。
1範圍和目的
1.1範圍
GB7247.1適用於雷射產品的安全。為了方便起見，本標準分成獨立的三個篇章：第一篇（總則）和附錄、第二篇（製造要求）、第三篇（用戶指南）。
雷射產品可以是附帶或不附帶獨立電源的單一雷射器，也可以是裝配了一個或多個雷射器的複雜光學、電氣或機械系統。雷射產品一般用於物理和光學現象的演示、材料加工、數據讀出及存儲、信息傳輸及顯示等等。這些系統已用在工業、商業、娛樂、研究、教育及醫學上。但是，出售給其他製造廠商用作任何系統部件的雷射產品可以不遵守本標準，因為最終產品本身將要服從本標準。
本標準中所用的辭彙“雷射器”無論何時都包括LED（發光二極體）。
符合下列條件的雷射產品或LED產品，不需考慮本標準的要求，如果：
——製造廠商根據第3章、第8章、第9章的分類，表明在所有工作、維護、檢修和故障條件下其發射水平不超過1類的AEL；
——不含有嵌裝式雷射器或嵌裝式LED。
除了雷射輻射引起的危害外，雷射設備也可引起其他傷害，諸如著火和電擊。
本標準闡述最低要求。
如果雷射系統構成設備的一部分，而設備必須遵從國家或IEC安全標準[如醫療設備（IEC60601—2—22）、信息技術設備（GB4943）、音頻和視頻設備（GB8898）、在有害環境中用的設備]，則除產品安全標準外，該設備還應符合本標準對雷射產品的安全要求。然而，如果雷射系統從設備移開後可以單獨工作，則被移開的單元應符合本標準的要求。
如果沒有適用的產品安全標準，則應使用GB4793.1。
本標準的MPE（最大允許照射量）值只針對雷射輻射而不適用於伴隨輻射。
然而，如果某種業務存在一種危險的可接觸伴隨輻射，則可以使用雷射輻射的MPE值對該危險進行謹慎的評估。
MPE值不適用於醫學上對患者進行治療的雷射照射。
