儀器漂移

儀器漂移

其考察通常基於較長時間段內的重複測量數據,通過示值平均值的變動量進行量化評估。該現象既與被測量的變化無關,也與已知影響量的變化無關,常見類型包括零點漂移和量程漂移。產生漂移的原因包括溫度、壓力、濕度等環境因素變化,以及儀器本身性能不穩定。減少漂移的措施包含使用前預熱、預先放置與室溫等溫處理。研究表明ICP-MS儀器靈敏度漂移可導致納米顆粒測量尺寸偏差達25%,通過基於內部標準的校正方法可修正該影響。在室溫超導實驗中,儀器漂移曾被用於解釋電阻測量數據的修正處理。

基本介紹

  • 中文名:儀器漂移
  • 含義:由於測量儀器計量特性的變化引起的示值在一段時間內的連續或增量變化

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