介電晶體介電性能的試驗方法

介電晶體介電性能的試驗方法

《介電晶體介電性能的試驗方法(GB/T 16822-1997)》是GB/T 16822—1997標準,本標準由國家技術監督局發布,本標準討論了各種晶系晶體的介電係數張量的獨立分量數目及其介電主軸的取法,同時給出了低頻下其介電係數及介電損耗的測量方法。

基本介紹

  • 書名:介電晶體介電性能的試驗方法
  • 作者:國家技術監督局
  • 出版日期:1997年10月1日
  • 語種:簡體中文
  • ISBN:155066114147
  • 外文名:Test Method for Dielectric Properties of Dielectric Crystal
  • 出版社:中國標準出版社
  • 頁數:4頁
  • 開本:16
  • 品牌:北京勁松建達科技圖書有限公司
《介電晶體介電性能的試驗方法(GB/T 16822-1997)》由中國標準出版社出版,本標準參考了GB 11297.11—89、GB 11297.9—89及GB 11294—89三個標準,針對介電晶體的介電性能與其結晶學對稱性有關,採用介電係數張量來描述其介電性能。

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