邏輯器件測試速度

基本介紹

• 中文名：邏輯器件測試速度
• 元件：測試儀
• 測試速度：與測試儀的檔次成正比
• 套用領域：電腦硬體

邏輯器件測試速度是指測試儀每秒可向被測器件輸入端施加多少個測試向量（Test Vector），即TV/S，這是衡量測試儀性能的重要指標，速度越快越好，表明測試儀的檔次越高，HN2000/MX最高可達610KTV/S（國外測試儀Pinpoint達10MTV/S，QT200達500KTV/S。）。該指標應準確、穩定，不隨微機的檔次而變。該指標的主要作用是解決同一型號但不同類型邏輯器件採用同一測試速度有時不能測試成功的問題。