華中科技大學分析測試中心

簡介

同時它面向社會開放，積極為地方的科研、經濟建設服務。中心將成為一個具備向校內外科學研究、品質鑑定、失效分析、案例判斷等提供公正、權威測試能力的重要機構。

分析測試中心的分析測試技術力量較雄厚。中心現有正式人員10人，契約制人員2人以及學生助管人員。其中：教授/博導1人，副高3人, 中級職稱6人，博士學位2人，碩士學位4人。中心設備配套齊全，目前擁有全部進口大型分析測試儀器設備幾十台, 總價值3000萬人民幣。中心占地1500多平方米，基礎配套設施齊全，有良好的工作條件。主要測試設備有：透射電子顯微鏡（含能譜）；場發射掃描電鏡（含能譜、電子背散射衍射分析系統和STEM探頭）；環境掃描電鏡（配有冷、熱台附屬檔案及能譜分析）；X射線衍射儀（配有冷、熱台附屬檔案）；X射線螢光探針；核磁共振波譜儀；園二色光譜儀；螢光光譜儀；傅立葉變換顯微紅外/拉曼光譜聯用儀；微波萃取/肖解系統；二維液相色譜－離子阱質譜聯用儀等。同時還配備了刻蝕噴鍍儀、離子減薄儀、超薄切片機等各類高級制樣設備。

測試項目

檢測項目和範圍	檢測儀器	檢測依據	備註
微區形貌分析	FEI-Quanta 200環境掃描電子顯微鏡 FEI-Sirion 200場發射掃描電子顯微鏡 FEI-Tecnai G200透射電子顯微鏡	JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則 JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則	FEI-Quanta 200環境掃描電子顯微鏡有冷台、熱台
微區結構分析	FEI-Tecnai G200透射電子顯微鏡 X’Pert Pro X射線衍射儀	JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則 JY/T 009-1996 轉靶多晶體X射線衍射方法通則
微區成份分析（Na11-U92）	FEI-Quanta 200環境掃描電子顯微鏡 FEI-Sirion 200場發射掃描電子顯微鏡 FEI-Tecnai G200透射電子顯微鏡	JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則 JY/T 009-1996 轉靶多晶體X射線衍射方法通則	FEI-Sirion 200場發射掃描電子顯微鏡配有電子背散射衍射分析系統OIM / EBSP
生物表面形貌（態）內部結構及原位成分分析（Na11-U92）	FEI-Quanta 200環境掃描電子顯微鏡 FEI-Sirion 200場發射掃描電子顯微鏡 FEI-Tecnai G200透射電子顯微鏡	JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則 JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則
元素定性分析（Na11—U92）	FEI-Quanta 200環境掃描電子顯微鏡 FEI-Sirion 200場發射掃描電子顯微鏡 FEI-Tecnai G200透射電子顯微鏡	JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則 JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則
相結構分析殘餘應力測試物相定量分析點陣常數測定晶格常數測定	X’Pert Pro X射線衍射儀	JY/T 009-1996 轉靶多晶體X射線衍射方法通則 GB 8360-87 金屬點陣常數的測定方法，X射線衍射法	X’Pert Pro X射線衍射儀有冷、熱台，可進行相變和熱分析
測試樣品製備	gatan公司的刻蝕噴鍍儀、離子減薄儀、德國萊卡的超薄切片機、組織脫水機、染色機、修塊機和美國BUEHLER公司的拋磨機、鑲樣機、精密切割機等

學術委員會

主任：謝長生

副主任：宋武林朱麗華

委員：楊祥良徐明厚龔躍法李箭于軍呂文中

華中科技大學分析測試中心

基本介紹

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測試項目

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