自動探針台是一種用於電子與通信技術、計算機科學技術領域的工藝試驗儀器,於2006年10月23日啟用。
基本介紹
- 中文名:自動探針台
- 產地:美國
- 學科領域:電子與通信技術、計算機科學技術
- 啟用日期:2006年10月23日
- 所屬類別:工藝試驗儀器 > 電子工藝實驗設備 > 半導體積體電路工藝實驗設備

自動探針台是一種用於電子與通信技術、計算機科學技術領域的工藝試驗儀器,於2006年10月23日啟用。
自動探針台是一種用於電子與通信技術、計算機科學技術領域的工藝試驗儀器,於2006年10月23日啟用。技術指標晶圓尺寸:4,5,6,8 晶圓片裝卸:1個載片盒 (25 或者 26 個片槽),連續的可程式雙向載入,快速單片晶...
自動探針台的維護 探針測試台x-y工作檯的分類 縱觀國內外的自動探針測試台在功能及組成上大同小異,即主要由x-y向工作檯,可程式承片台、探卡/探卡支架、打點器、探邊器、操作手柄等組成,並配有與測試儀(TESTER)相連的通訊接口...
CMOS晶片半自動探針台是一種用於材料科學領域的科學儀器,於2018年12月11日啟用。技術指標 2.1 探針台(針座,探針等),1套 1、手動探針台,寬大的測試空間,能對晶圓、晶片及單器件進行IV/CV及S參數測試 2、載片台直徑:6英寸,...
12寸高速矽片自動測試探針台 12寸高速矽片自動測試探針台是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2012年3月21日啟用。技術指標 12英寸,4組探針。主要功能 固定晶圓配合測試系統測試。
射頻半自動探針台是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2011年07月01日啟用。技術指標 1、 8”半自動射頻探針台,移動範圍達203mm*203mm或以上 2、定位方式和精度:半自動; X, Y軸精度優於0.1um, 重複精度優於+/-1um, ...
射頻晶片半自動探針台系統是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2017年9月30日啟用。技術指標 移動範圍大於203mm*203mm;數字針座;X,Y軸移動範圍:1.27cm*1.27cm;解析度:317.5mm/圈,探針漏電優於10fA,探針系統總漏電優...
東京精密探針台 東京精密探針台是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2015年3月10日啟用。技術指標 30-125℃溫度可調4寸、6寸、8寸晶圓測試自動上下晶圓自動對準探針卡。主要功能 晶圓測試。
測試探針台 測試探針台是一種用於材料科學、電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2017年02月17日啟用。技術指標 lakeshore TTPX 型號探針台性能指標。主要功能 光電子/電子器件測試。
平板電腦晶片測試探針台是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2018年12月24日啟用。技術指標 綜合精度:2um 適用晶圓尺寸:8英寸、12英寸 溫度範圍:-50℃~ 150℃ X/Y軸最大速度:500mm/sec。主要功能 可以提供OCR 標識...
移動通訊晶片測試探針台是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2018年12月24日啟用。技術指標 綜合精度:2um 適用晶圓尺寸:8英寸、12英寸 溫度範圍:-50℃~ 150℃ X/Y軸最大速度:500mm/sec。主要功能 可以提供OCR 標識...
晶圓測試探針台是一種用於生物學領域的電子測量儀器,於2016年06月01日啟用。技術指標 適用晶圓尺寸:8英寸、12英寸 溫度範圍:-40℃ ~ 150℃。主要功能 以提供slot 自動比對功能,和PMI(prober mark inspection)針痕自動檢測、自動...
晶片測試探針台是一種用於材料科學領域的電子測量儀器,於2014年09月30日啟用。技術指標 綜合精度:3.6um適用晶圓尺寸:8英寸、12英寸溫度範圍:常溫 ~ 150℃X/Y軸最大速度:500mm/sec。主要功能 可以提供OCR 標識自動識別,程式...
真空探針台 真空探針台是一種用於數學領域的分析儀器,於2019年9月30日啟用。技術指標 真空度 SET。主要功能 在高真空環境下測試晶片。
移動多媒體晶片晶圓測試探針台是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2017年12月31日啟用。技術指標 綜合精度:3.6um適用晶圓尺寸:8英寸、12英寸溫度範圍:常溫 ~ 150℃X/Y軸最大速度:500mm/sec。主要功能 可以提供OCR ...
虛擬現實VR晶片晶圓測試探針台是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2017年12月31日啟用。技術指標 綜合精度:3.6um適用晶圓尺寸:8英寸、12英寸溫度範圍:-55℃ ~ 150℃X/Y軸最大速度:500mm/sec。主要功能 可以提供OCR...
晶圓探針台是一種用於信息科學與系統科學、電子與通信技術領域的分析儀器,於2012年02月03日啟用。技術指標 能夠測試4,5,6,8寸的晶圓。Index精度:±4um。定位速度:254mm/s。主要功能 EG4090是一台高精度的晶圓測試設備,用於自動...
全自動半導體測量分析系統是一種用於材料科學、物理學領域的物理性能測試儀器,於2015年5月2日啟用。技術指標 標準4英寸探針台; 100個點多點全自動掃描;溫度自動控制(20到120攝氏度);電阻測試範圍:m Ohm 到 M Ohm;漏電流:保證...
深圳矽電已經成長為國內規模最大的探針台(點測機)生產企業,是中國大陸最早研製,批量生產全自動探針台、LED點測機,主要產品有:8吋全自動探針台,4~8吋多款探針台、雙面探針台、LED探針台、LED全自動抽測探針台、焊卡台、全自動...
2.3種C-V法:多頻(1kHz~10MHz)C-V、超低頻(10mHz~10Hz)C-V和準靜態C-V 3.9個測量槽和內置低噪聲接地單元 4.支持Cascade Microtech Summit12K 系列、 Karl Suss PA-200、micromanipulator 的8860 自動和手動探針台。
公司經營產品分光學類、探針台及無損檢測三大類:主要有探針台產品系列、SELMIC超高放大倍率三維視頻顯微鏡、UNION測量顯微鏡、視頻顯微鏡及超長工作距離視頻顯微鏡、SEIWA系列光學產品、紅外顯微鏡、近紅外顯微鏡、手持攜帶型視頻顯微鏡、普通光學...
第二節積體電路自動探針台 第三節積體電路測試分選機 第四節測試硬體設計.參考文獻 後記 作者簡介 成立《教程》編審委員會與編寫委員會。編審委員會負責《教程》編制指導、審定等工作。成員包括人力資源社會保障部相關負責人、工程院院士、...
從事積體電路晶圓測試、成品測試、可靠性試驗和失效分析等工作的人員。職業簡介 簡介 能利用自動測試探針台、自動分選機(機械手)、自動測試設備(ATE)和其他相關儀器設備,從事積體電路各種測試。應具備的條件 1.了解常用積體電路測試設備...
測試設備:BC3152、JC3166、BC3168、TR6020、TR6050、JC3196A、BC3196D、JUNO DTS1000等數字、模擬、數模混合積體電路以及半導體分立器件測試系統;具備美國EG、日本TSK及國產自動探針台四十餘台,可測試3″至8″晶圓(圓片);月測試能力...
先後購置了Cascade Summit 9000高頻微波探針台、Cascade 12000 高低溫微波探針台、SUSS PA200 半自動微波探針台、HP8510C矢量網路分析儀(45MHz-26.1GHz)、HP8563E頻譜分析儀(9KHz-26.5MHz)、HP 83752B合成掃頻源(10MHz-20GHz)、...
