帶光譜

帶光譜

譜帶,是氣體分子高溫激發,除電子能級躍遷外,還產生分子振動轉動能級變化,形成一個或數個密集的譜線組。

電極空氣中的在高溫下生成分子,它產生三個氰帶光譜353.0~359.0nm,377.0~388.Ohm和405.0~422.0nm。

基本介紹

  • 中文名:帶光譜
  • 外文名:band spectrum
  • 氰帶光譜1:353.0~359.0nm
  • 氰帶光譜2:377.0~388.Ohm
  • 氰帶光譜3:405.0~422.0nm
窄帶高光譜干涉成像的壓縮採樣復原方法,壓縮採樣方法,非重疊窄帶光譜的壓縮採樣方法,實驗與分析,硬勢阱中玻色凝聚態光散射的邊帶光譜,簡介,特點,

窄帶高光譜干涉成像的壓縮採樣復原方法

利用干涉成像光譜儀對目標進行窄帶高光譜成像探測具有高光通量、高光譜解析度和高目標解析度等優點。按照尼奎斯特定理對窄帶光譜干涉信息進行採樣存在較大的數據冗餘,增加了後期傅立葉變換的數據處理量,影響光譜的復原效率。在分析窄帶光譜傅立葉變換特性的基礎上,提出了基於濾光片光譜透射率函式的窄帶光譜壓縮採樣方法。引入濾光片參數和混疊參數,可以復原不同精度的窄帶光譜信息。配以符合要求的多帶通窄帶濾光片,可對目標進行壓縮採樣獲取多個譜段的窄帶光譜信息,從而避免了逐個譜段探測,提高了探測效率。對該方法進行了仿真分析和實驗驗證,得到了與目標光譜相吻合的復原窄帶光譜。

壓縮採樣方法

壓縮採樣頻率只與探測的最大波數和最小波數有關,是建立在濾光片光譜透射率函式為矩形窗基礎上的。在 窄帶光譜探測過程中,為濾除其他波段光譜的影響,需要在探測裝置中加入窄帶濾光片。由於生產工藝等原因,窄帶濾光片透射率 函 數 很 難 達 到 矩 形 窗 要 求。 利用採樣頻率對干涉信息進行採樣,復原光譜可能存在較大的誤差。因此在窄帶光譜探測中必須考慮濾光片光譜透過函式W(σ)對採樣頻率的影響。
窄帶濾光片實際通光譜段與標明的譜段之間往往存在一定的偏差,會影響目標透過光譜的範圍,在套用中應當考慮這一偏差。利用一個窄帶濾光片通光譜段波動參數 Δσ來擴展窄帶濾光片光譜透過範圍,可以保證探測譜段全部通過窄帶濾光片。

非重疊窄帶光譜的壓縮採樣方法

當探測目標具有兩個或者多於兩個的非重疊窄帶光譜時,為避免逐個譜段探測,可以在干涉成像光譜儀中加入多帶通濾光片對目標進行直接探測。當目標具有兩個非重疊窄帶光譜時。計算出兩個窄帶光譜的擴展探測譜 段,設 為σL~σR1、σL2 ~σR2;頻寬分別為 Δσ1 和 Δσ2

實驗與分析

為了驗證的壓縮採樣方法,搭建了像面干涉成像光譜裝置。實驗裝置由四部分組成:推掃部件、橫向剪下干涉儀、成像系統和探測器。探測目標發射或者反射的光束以平行光束的形式進入橫向剪下系統,不同的目標物點對應不同入射角的平行光束。當平行光束經過橫向剪下分束器後,被橫向剪下成兩束相干平行光。兩束出射光的等光程面與橫向剪下分束器的光束出射面平行,而對於後面的成像系統而言,入射平行光束的等光程面垂直於入射光束。剪下分束器的出射面垂直於系統光軸時,對於視場角不為零的光束,兩個等光程面不重合,則剪下開來的兩束相干光束通過成像系統到達像面同一點會存在光程差,進而發生干涉。因此成像系統成的像是經過光程差調製的干涉圖像。同一物點的視場角隨著推掃改變,到達像面的干涉光程差發生變化,在探測器上可以記錄下該 點不同光程差下的干涉信息,通過傅立葉變換可以復原光譜信息。該類型成像光譜儀具有高光通量、高目標解析度、結構簡單實用等優點。

硬勢阱中玻色凝聚態光散射的邊帶光譜

簡介

含N個原子的玻色凝聚態處於強簡諧勢阱中受弱光場照射時 , 散射光譜可由微擾方法解出。

特點

光譜呈現如下特點 :
(1) 邊帶結構反映在 不同振動能級間的躍遷 ;
(2 ) 邊帶峰系列強度取決於散射角度與勢阱各軸的取向 ;
(3 ) 光譜由兩部分貢獻合成 , 即單粒子貢獻部分及多粒子貢獻部分。兩部分的線形具有不同的結構。 當 N > > 1 時多粒子部分成為主要部分。

相關詞條

熱門詞條

聯絡我們